高溫卷繞/抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置價(jià)格 扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)

高溫卷繞試驗(yàn)裝置(抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置）概述
高溫卷繞試驗(yàn)裝置(抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置）適用于聚氯乙烯電線電纜的絕緣和護(hù)套，在高溫條件下的開裂試驗(yàn)前的卷繞，也可用于其他軟質(zhì)線材的卷繞試驗(yàn)。符合GB/T2951.31-2008標(biāo)準(zhǔn)要求。又稱抗開裂熱沖擊試驗(yàn)裝置。
1、zui大的卷繞直徑：Φ12.5mm      
2、zui大卷繞寬度：170mm(即卷繞芯棒長度)
3、zui大卷繞長度：200mm 
4、卷繞棒尺寸：2、4、5、6、8、9、10、13、19、40mm共十條
高溫卷繞試驗(yàn)裝置(抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置）試驗(yàn)方法
1、絕緣熱沖擊試驗(yàn)
1.1取樣
每個(gè)被試絕緣線芯應(yīng)取兩根適當(dāng)長度的試樣，試樣應(yīng)取自兩處，間隔至少為1m。若有外護(hù)層的話，應(yīng)從絕緣上除去。
1.2試樣制備
試樣應(yīng)按下列三種方法中的一種進(jìn)行制備：
a)對于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯，每一試樣是一段絕緣線芯。
b)對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有的扇形絕緣線芯，每個(gè)試樣應(yīng)取成絕緣窄條，其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍，但不小于4mm。
窄條應(yīng)沿絕緣線芯的軸線方向切取，如果是扇形絕緣線芯，應(yīng)在絕緣線芯的“背部”切取。
c)對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個(gè)試樣應(yīng)按b)規(guī)定切取窄條，然后窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0～5.0mm厚，該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
1.3試樣卷繞
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，并將兩端固定。
試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下：
a)按1.2a）項(xiàng)制備的試樣、扁平電纜或軟線，表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取，卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。 
表1  
試樣外徑D/mm    試棒直徑/mm    卷繞圈數(shù)  
D≤2.5    5    6  
2.5＜D≤4.5    9    6  
4.5＜D≤6.5    13    6  
6.5＜D≤9.5    19    4  
9.5＜D≤12.5    40    2  
b)按1.2b）和1.2c）制備的試樣，表2規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。在這種情況下，試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。  
表2  
試樣厚度δ/mm    試棒直徑/mm    卷繞圈數(shù)  
δ≤1    2    6  
1＜δ≤2    4    6  
2＜δ≤3    6    6  
3＜δ≤4    8    4  
4＜δ≤5    10    2  
上述表格中，試樣直徑或試樣厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其他合適的測量工具進(jìn)行測定。  
1.4加熱和檢查  
繞在試棒上的試樣應(yīng)放入預(yù)熱到有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試驗(yàn)溫度的空氣烘箱中，如果電纜標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定，則預(yù)熱到（150±3）0C，試樣在規(guī)定溫度下保持1h。  
加熱結(jié)束后從烘箱中取出試樣并在試樣達(dá)到近似環(huán)境溫度后，檢查仍在試棒上的試樣。  
1.5試驗(yàn)結(jié)果的評定  
用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí)，試樣應(yīng)裂紋。  
2、護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)  
2.1取樣  
每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。若有外護(hù)層應(yīng)除去。  
2.2試樣制備  
a)對于外徑不超過12.5mm的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護(hù)套電纜除外。  
b)對于外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護(hù)套和聚乙烯絕緣電纜的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是取自護(hù)套上的窄條，其寬度至少是護(hù)套厚度的1.5倍，但不小于4mm，窄條應(yīng)沿電纜的軸線方向切取。  
c)對于外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是按b）項(xiàng)規(guī)定切取的窄條，然后在窄條的外表面磨或削（避免過熱）到（4.0～5.0mm）厚，該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。  
d)對于扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個(gè)試樣應(yīng)是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個(gè)試樣應(yīng)是按b）規(guī)定從護(hù)套上切取的窄條。  
2.3試樣卷繞  
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。  
按2.2a)項(xiàng)制備的試樣，及2.2d)項(xiàng)寬度不超過12.5mm的扁平電纜，試棒的直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3a)項(xiàng)規(guī)定。試棒直徑應(yīng)按電纜的短軸尺寸選取，卷繞時(shí)應(yīng)使其短軸垂直于試棒。  
按2.2a)和2.2c)項(xiàng)制備的試樣，及2.2d)項(xiàng)寬度超過12.5mm的扁平電纜，試棒直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3b)項(xiàng)規(guī)定。在這種情況下，試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。